振幅整合脑电图（aEEG）在晚期早产儿脑损伤中的应用

随着围产医学和新生儿重症监护技术的发展，早产儿存活率不断提高，其中25%~50%早产儿可发生脑损伤[1]，所以脑损伤已成为当前早产儿遗留神经系统后遗症的重要因素之一。如何早期识别脑损伤进而判断其严重程度，预测远期预后，对指导临床早期积极治疗，改善危重早产儿生存质量具有重要意义[2]。目前振幅整合脑电图（amplitude integration electro encephalogram，aEEG）作为一种用脑电信号振幅波来分析脑电波的方法，已被越来越多的应用于新生儿重症监护病房（NICU），成为其日常监护的一部分[3]。近年来有不少研究表明，同足月新生儿相比，晚期早产儿（胎龄在34~36+6周）具有更高的风险，需要医护人员给予更多的关注。早产儿因其机体生长发育极易遭受外界因素干扰，将具有较高的神经系统发育异常风险，应引起相关医护人员注意[4]。本文将对振幅整合脑电图在晚期早产儿脑损伤的应用价值进行探讨分析，报道如下。 1 对象与方法 1.1 对象：选取自2015年10月至2018年3月收住我院的32例出生时有窒息史（Apgar评分1 min、5 min及10 min有任意一项评分小于8分）的晚期早产儿（病例组）和同期住院的41例出生时无窒息史、未诊断脑损伤的晚期早产儿（对照组）作为本次试验的研究对象，进行回顾性分析。其中男42例，女31例；胎龄为34~36周，平均胎龄（35.17±3.07）周；出生时的体质量为1670~3150 g，平均体质量（2115.71±274.61）g；其中有56例产儿为阴道分娩，17例产儿为剖宫产；其中有23例为双胎儿，50例为单胎儿。所有脑损伤早产儿均符合脑损伤判定标准[5]，并排除了合并严重黄疸、低血糖、化脓性脑膜炎及神经系统先天畸形、伴有遗传代谢性疾病的患儿。且所有早产儿均在监护人同意知情后进行监测。两组早产儿的胎龄分布、性别比例、出生体质量以及生产方式等一般资料无统计学意义（P>0.05），具有可比性。见表1。